51.对产品尺寸进行统计过程控制，每隔1小时抽取一组样本，每组5件，共抽取20组。此种情形应采用( )。
　　A. —R控制图
　　B. —S控制图
　　C.X—RS控制图
　　D.c控制图
　　E.P控制图
　　52.关于统计控制状态的说法，正确的有( )。
　　A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
　　B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
　　C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
　　D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
　　E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
　　53.均值控制图对于组数据的收集要求有( )。
　　A.子组大小越大越好
　　B.同一子组数据需在短时间内抽取
　　C.同一子组数据应来自于同一生产条件
　　D.每个子组的样本量一般取4～5
　　E.同一子组数据可在不同生产线上抽取
　　54.关于过程波动影响因素的说法，正确的有( )。
　　A.影响因素的来源可分为人、机、料、法、环、测六个方面
　　B.异常因素不是过程固有的，但对过程影响较大
　　C.减少异常因素可以消除偶然波动
　　D.偶然因素引起过程的随机波动，反映过程的固有能力
　　E.从过程是否处于统计控制状态可以判断过程中是否存在异常因素
　　55.可用于分析过程标准差波动的控制图有( )控制图。
　　A.均值
　　B.单值
　　C.极差
　　D.标准差
　　E.移动极差
　　56.关于极差控制图的说法，正确的有( )。
　　A.极差的计算公式为子组中最大值与最小值的差
　　B.当子组样本量大于10时，不适宜使用极差控制图
　　C.极差控制图主要用于分析分布中心的波动
　　D.极差控制图计算简便
　　E.在分析阶段与均值控制图联合使用时，应先分析均值控制图
　　57.关于不合格品率控制图的说法，正确的有( )。
　　A.子组大小可以不相等
　　B.子组大小相等时控制限为凹凸状，无法判异
　　C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化
　　D.用于分析过程不合格品率的波动
　　E.理论基础是指数分布
　　58.过程能力指数Cp小于1.0表示( )。
　　A.过程能力不足
　　B.应改进过程
　　C.应减小过程输出特性的标准差
　　D.过程未处于统计控制状态
　　E.应减小过程中心和技术中心的偏移量
　　59.下列数值的计算中，与技术规范无关的有( )。
　　A.过程分布中心
　　B.过程能力
　　C.上、下控制限
　　D.过程能力指数
　　E.过程标准差
　　60.关于质量改进的说法，正确的有( )。
　　A.持续的质量改进是质量管理八项基本原则之一
　　B.质量改进消除的是偶发性问题，使产品质量保持在规定的水平
　　C.质量改进主要通过日常的检验来保证
　　D.质量改进可应用于生产经营活动的所有过程
　　E.质量改进通过不断采取纠正和预防措施来提高企业的质量管理水平

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