Control Chart控制图：
　　以统计推断理论为基础，设置统计控制限，按时间坐标显示独立测量值、平均值或其他统计值的折线图。
　　COPQ（Cost Of Poor Quality）不良质量成本损失：
　　由于缺陷或不良质量造成的成本损失。
　　CTQ（Critical to Quality）关键质量特性：
　　满足关键的顾客要求或过程要求的产品或过程特性。
　　Defect 缺陷：
　　不满足CTQ规范的任何事件。
　　DOE（Design of Experiment） 实验设计：
　　析因实验和相应的改进方法。
　　DPMO（Defect Per Million Opportunity）：
　　 百万缺陷机会缺陷数
　　ADPO（Defect Per Opportunity）：
　　单位机会缺陷数
　　DPU（Defect Per Unit）：
　　单位缺陷数
　　FMEA（Failure Mode and Effects Analysis）失效模式与影响分析：
　　用来分析产品或服务及其过程由于失效导致风险的方法。
　　FTY（First Time Yield）：
　　首次产出率