X线头影测量的主要应用

（1）研究颅面生长发育。

（2）牙颌、颅面畸形的诊断分析。

（3）确定错和畸形的矫治设计。

（4）研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。

（5）外科正畸的诊断和矫治设计。

（6）下颌功能分析。

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